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針對連接器、手機、PDA、LCD鐵框、膠框......等而言，側邊尺寸的量測均屬於非接觸式影像量測之缺點，如:

• 連接器、手機、PDA : 在量測時均須依靠底面做為基準面，所以使用立式量測儀器，須將工件站立依靠平行塊量測，否則需使用臥式量測儀器且須事先校正垂直面
• LCD鐵框、膠框 : 在光電業中有許多側邊尺寸之量測，但因為非接觸式影像量測有Z軸高度限制(Z軸高度均為100~300mm)，所以使用接觸式量測(3D探針)，但因探針接觸式量測速度慢而不敷成本，漸而懷疑自己是否購買錯儀器

我司開發一系列專用於側邊量測之光學反射器，可撘配用於立體顯微鏡、光學投影機、2.5D影像量測、非接觸式三次元上使用