AI-3.2- DEVELOP (專用定位/檢測/瑕疵檢工具組)

•專業級 AI 檢測平台軟體

•瑕疵查找、分類檢測、特徵計數。

•品質驗證、裝配檢測、文字提取。

•樹狀結構、綜合判定、成本優勢。

•首創程式碼 (C#、C++) 智能生成。

AQVision 2.4 (佈署顯微鏡檢測環境+AOI 工具組)

•瑕疵樣本生成工具軟體

•解決瑕疵樣本收集不易痛點。

•缺陷生成、缺陷遷移 兩大功能。

•可大幅縮短收集瑕疵耗費時間。

•仿真圖片及標註，AIDI直接使用。

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