AI 專用智能檢測系統
AI-3.2- DEVELOP 平台軟體 ＼ AQVision 2.4 仿真樣本生成 ＼ 橫跨缺陷定位與工業自動化大成
C# / C++ Auto 首創核心程式碼智能生成技術
NG Generator 獨家缺陷生成與遷移破解樣本痛點
AIDI Ready 仿真圖片與標註數據供 AIDI 直接使用
高階工業視覺核心雙軟體工具組機能
AI-3.2- DEVELOP (專業工具組)
- 定位與檢測大腦 : 專為工業製程設計的 專用定位 ＼ 檢測 ＼ 瑕疵檢工具組。
- 核心系統架構 : 工業級、全功能 專業級 AI 檢測平台軟體。
- 三大視覺分析 : 完美執行高難度之 瑕疵查找、分類檢測、特徵計數。
- 產線多元應用 : 靈活對接 品質驗證、裝配檢測、文字提取 (OCR) 等深度學習任務。
- 邏輯決策優勢 : 內建強大的 樹狀結構 邏輯，實現精準的 綜合判定，具備極高的全面部署 成本優勢。
- 首創智能代碼 : 具備跨時代 首創程式碼 (C#、C++) 智能生成 技術，無縫銜接上位機軟體。
AQVision 2.4 (顯微鏡與 AOI 環境)
- 軟體環境部署 : 專為高效 佈署顯微鏡檢測環境 + AOI 工具組 而生的核心平台。
- 革命性生成軟體 : 專利級 瑕疵樣本生成工具軟體。
- 攻克產業盲區 : 徹底 解決瑕疵樣本收集不易痛點，告別漫長的無效數據等待期。
- 兩大核心技術 : 內建尖端 缺陷生成、缺陷遷移 兩大 AI 圖像演算功能。
- 縮短建置週期 : 實測資料顯示，可大幅縮短收集瑕疵耗費時間達 80% 以上。
- 無縫對接 AIDI : 自動產出高真度 仿真圖片及標註數據，可供主流軟體 AIDI 直接使用。
工業 AI 視覺智能檢測系統常見採購問答
Q1 工業視覺從傳統「規則形 AOI」走向「深度學習 AI」最大的痛點是收集不到足夠的 NG 瑕疵樣本，AQVision 2.4 如何解決這個問題？
這是高科技廠、半導體廠在導入智慧化品管時最常遇到的瓶頸。傳統 AI 訓練需要成千上萬張包含真實針孔、裂紋、髒污的缺陷圖片（NG數據），但高精密產線本身的良率極高，往往運作幾個月都收集不到幾張不良品照片，導致 AI 項目遲遲無法上線。力訓科技部署的 AQVision 2.4 是一款革命性的「瑕疵樣本生成工具軟體」，專門「解決瑕疵樣本收集不易痛點」。它內建了「缺陷生成與缺陷遷移」兩大尖端功能，只需提供極少量的初始瑕疵特徵，軟體便能在大氣或顯微鏡檢測環境下，自動演算法生成成千上萬張具備不同大小、形態與位置的「仿真圖片及標註」。這些高品質的標註數據能夠讓 AI 視覺軟體「AIDI 直接使用」，「可大幅縮短收集瑕疵耗費時間」，讓您的 AI 品檢系統提前數月甚至數年部署投產！
Q2 AI-3.2- DEVELOP 平台軟體標榜的「首創程式碼（C#、C++）智能生成」與「樹狀結構」，對我們廠內的自動化設備工程師有何實質開發效益？
傳統的工業 AI 軟體在訓練完模型後，自動化工程師必須耗費大量的時間與代碼工作，手動編寫 API 去對接工廠的 C# 或 C++ 上位機控制系統，流程繁瑣且容易出錯。AI-3.2- DEVELOP 平台軟體具備跨時代的「首創程式碼智能生成技術」，在軟體內完成「瑕疵查找、分類檢測、特徵計數」的邏輯編排後，系統能一鍵自動導出純淨、優化後的 C# 或 C++ 原始代碼，工程師能直接將其貼入生產線設備的控制主程式中！再配合軟體特有的「樹狀結構（Tree Structure）」邏輯編程，工程師可以用直觀的圖形化節點，設計出多層次、複雜決策的「綜合判定」流程。這不僅將傳統的自動化視覺開發週期縮短了 70% 以上，更展現了極其顯著的購置與整合「成本優勢」。
Q3 力訓科技這套 AI 智能檢測系統，是否能與我們廠內原有的光學顯微鏡或現成的標準 AOI 機台進行軟硬體整合？
完全可以！力訓科技這套系統具備極佳的開放性與柔性架構。AQVision 2.4 本身就包含強大的「佈署顯微鏡檢測環境 + AOI 工具組」驅動層。不論您廠內原先使用的是日本名廠（Nikon, Olympus）的金相顯微鏡，還是各大巨型全自動影像量測儀，只要原設備具備標準的工業相機通訊介面（如 USB 3.0, GigE, CameraLink），我們的 AI 系統就能直接接管相機訊號。軟體在後台執行極速的品質驗證、裝配檢測與文字提取（OCR）演算，完全不需要您報廢現有硬體，是各大工廠以最低預算、最無痛升級至微米級「深度學習智慧化品管」的完美技術解決方案（EEAT）。